性能特点：
1、CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的
实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样
缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺
口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲
击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口
加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
2、对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺
口深2mm、呈45º角且试样缺口尖端要求R0.25±0.25），故在整个试验
过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的
加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口
尖端的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试验结果的陡跳，尤
其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为
保证加工出的夏比V型缺口合格，对缺口的加工质量检验是一个重要的
质量控制手段。
技术参数：
1、投影屏直径：180
2、工作台尺寸：方工作台：110×125
圆工作台：∮90
工作台玻璃直径：∮70
3、工作台行程： 纵向：10mm 横向:10mm 升降:12mm
工作台转动范围：0～360º
4、仪器放大倍率：50×；物镜放大倍率：2.5×投影物镜放大倍率
20×；光源(卤钨灯)；12V/100W
5、电源：220V/50Hz；重量:约18kg
6、外型尺寸：515×224×603mm(长×宽×高)
